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TableXAFS是一種基于同步輻射的先進表征技術。當X射線光子能量接近并超過材料中特定原子內層電子的電離閾值時，其吸收系數會出現閾值之上的精細振蕩結構。該振蕩來源于出射光電子波與周圍鄰近原子背散射電...

CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測量微弱的光譜信號，揭示物質更細微的結構和性質。其次，該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區域的多個波長范圍，滿足各種研究需求...

真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結構，入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上，可以單色模式和光譜模式切用 。

高分辨平場光譜儀，采?全息凹球?變線距光柵進?分光，具有平場特性，便于使??陣CCD記錄光譜。光柵?作在掠?射模式下，衍射效率?，同時通過選?不同的光柵型號，可以實現波?范圍1~30nm的全覆蓋。

極紫外光譜儀，采用全息凹球面變線距光柵進行分光，具有平場特性，便于使用面陣CCD記錄光譜。光柵工作在掠入射模式下，衍射效率高，同時通過選用不同的光柵型號，可以實現波長范圍0.6~200nm的全覆蓋。

x射線吸收精細結構（XAFS）譜儀，原位X射線吸收光譜是一種利用同步輻射光源或高性能實驗室X射線源，測量并分析材料對X射線的吸收系數隨光子能量變化的精細結構的大型實驗裝置。通過在反應過程中實時監測吸收...

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

X射線吸收譜儀是一種利用同步輻射或實驗室X射線源，通過測量材料對X射線的吸收特性來探測其原子尺度局域結構及電子態的分析儀器。其核心技術包括X射線近邊吸收譜和擴展邊精細結構，可精準解析目標元素的化學價態...

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

臺式X射線吸收譜儀 是一種采用常規實驗室X射線光源（而非同步輻射），可在普通實驗室內完成X射線吸收精細結構測量的桌面型分析儀器。它的目標是在非同步輻射光源的條件下，實現對材料局部原子結構的快速、便捷表...