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TableXAFS是一種基于同步輻射的先進表征技術。當X射線光子能量接近并超過材料中特定原子內層電子的電離閾值時，其吸收系數會出現閾值之上的精細振蕩結構。該振蕩來源于出射光電子波與周圍鄰近原子背散射電子波之間的干涉效應，其結構蘊含著吸收原子周圍的局部原子結構信息，包括配位原子種類、距離、配位數及無序度等。

CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測量微弱的光譜信號，揭示物質更細微的結構和性質。其次，該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區域的多個波長范圍，滿足各種研究需求。

真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結構，入射狹縫和CCD探測器位于羅蘭圓上，可以單色模式和光譜模式切用 。

x射線吸收精細結構（XAFS）譜儀，原位X射線吸收光譜是一種利用同步輻射光源或高性能實驗室X射線源，測量并分析材料對X射線的吸收系數隨光子能量變化的精細結構的大型實驗裝置。通過在反應過程中實時監測吸收邊的近邊（XANES）和擴展邊（EXAFS）信號，揭示材料在真實環境中的結構演化規律，為理解構效關系、優化材料設計提供直接依據。

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。