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X射線吸收譜儀核心特性解析

更新時間:2026-01-13點擊次數:112
X射線吸收譜儀利用常規X光源實現X射線吸收精細結構(XAFS)光譜測量,對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有良好的補充拓展作用,豐富科研檢測技術支撐。該儀器采用小型化桌面式設計,兼具易用性與高性能,核心優勢特性如下:
一、小型化桌面式系統:便捷易用核心優勢
系統采用小型化桌面式設計,降低使用門檻、適配多場景,具體優勢:
-支持近邊快掃功能,提升測量效率;
-支持原位測試等擴展功能,拓寬應用;
-人體工學高度設計,操作便捷;
-內置實驗參數預置,快速啟動測量;
-樣品/測量模式一鍵切換,簡化操作;
-遠程數據傳輸,實時顯示進程結果,支持無人值守;
-專業應用技術與數據分析支持,保障實驗推進;
-具備輻射豁免資質與多重安全聯鎖,保障人身與使用安全;
二、XAFS專用彎晶:優異性能適配
配備XAFS專用彎晶,通過精準配置與定制,保障測量覆蓋與精度,特性如下:
-晶面配置齊全,覆蓋全元素測量;
-預準直安裝,即插即用,簡化調試;
-可定制特殊彎晶,適配元素需求,確保最佳性能;
綜上,該譜儀憑借便捷操作、豐富功能及優異核心性能,在補充拓展現有科研儀器功能的同時,為XAFS光譜測量提供靈活、安全、高效的解決方案。